光學(xué)瓦檢儀的故障處理

光干涉瓦檢儀的常見(jiàn)故障及處理方法：

（1）干涉條紋現(xiàn)場(chǎng)過(guò)小

主要表現(xiàn)是當(dāng)?shù)诙l黑條紋對(duì)零后，在劃分板右側(cè)出現(xiàn)暗影，或者第一條黑色條紋前的干涉條紋不到兩條。

主要原因是光路不正，平面鏡后傾不足或后傾過(guò)量，導(dǎo)致一部分從折光棱鏡反射回來(lái)的光線投射不到平面鏡上，是平面竟干涉區(qū)過(guò)小。

處理方法是調(diào)整平面鏡和折射棱鏡的傾角。

（2）讀數(shù)偏小。

一臺(tái)瓦檢儀對(duì)好零位基線后，未檢測(cè)前就出現(xiàn)基線左移或者幾臺(tái)瓦檢儀同時(shí)對(duì)同一地點(diǎn)進(jìn)行瓦斯檢測(cè)時(shí)，有的瓦斯儀顯示的數(shù)據(jù)偏小。

出現(xiàn)這種原因較復(fù)雜，主要是：

1、溫差大引起的讀書(shū)偏小，儀器對(duì)零地點(diǎn)溫度比被檢測(cè)地點(diǎn)溫度低得多（15℃）；

2、儀器空氣室污染引起讀數(shù)偏小；

3、儀器漏、串氣引起讀數(shù)偏?。?/p>

4、儀器對(duì)零位不當(dāng)引起讀書(shū)偏小，儀器在井下使用時(shí)不慎碰撞需重新對(duì)零時(shí)，就在空氣不新鮮的巷道中進(jìn)行，增加了儀器空氣室空氣的折射率；5、儀器毛細(xì)管漏氣、堵塞引起讀數(shù)偏小，因此仔細(xì)查清原因，進(jìn)行處理。

（3）干涉條紋彎曲

這是由于

1、通光區(qū)表面光圈不良；

2、儀器平面鏡、反射棱鏡、折射棱鏡材質(zhì)不合格

3、空氣室平行玻璃不合格或有劃痕；

4、物鏡開(kāi)膠；

5、銀層局部劃傷。

處理方法是，判斷彎曲程度、確定受影響鏡片，然后更換鏡片或?qū)⑵矫骁R或折光棱鏡翻過(guò)來(lái)組裝調(diào)整。

（4）傾斜或干涉條紋雖直但向一側(cè)平行的傾斜。

原因有：

1、折光棱鏡座的底平面發(fā)生變化，

2、水平度發(fā)生變化處理時(shí)先將折光棱鏡座的底面左右方向磨平，使棱鏡能繞大法線旋轉(zhuǎn)，然后再磨，調(diào)整條紋寬度，最后調(diào)整干涉條紋傾斜。

（5）干涉條紋加壓時(shí)反向移動(dòng)

原因是底座傾向、傾角不對(duì)、更換平面鏡底座即可

（6）干涉條紋“虛”、“粗”

原因有：

1、燈泡表面有毛??；

2、光路找的不準(zhǔn)確，使條紋變“虛”；

3、平面鏡的平行度不好，折光棱鏡的直角誤差超出規(guī)定值；

4、鏡片污染；

5、平面鏡和折光棱鏡間存在應(yīng)力，裝配時(shí)螺釘松緊不當(dāng)。

（7）檢測(cè)出的CO2濃度出現(xiàn)負(fù)值出現(xiàn)負(fù)值

原因是兩次檢測(cè)值不在同一側(cè)點(diǎn)，例如先在巷道頂部測(cè)CH4濃度，然后取下CO2吸收管，在巷道底部檢測(cè)混合氣體濃度，再將兩次測(cè)得的數(shù)據(jù)相減，乘以校正系數(shù)得出CO2濃度，如巷道頂部的CH4濃度大于巷道底部的混合氣體濃度則會(huì)出現(xiàn)負(fù)值。避免該現(xiàn)象的辦法是，用此方法檢測(cè)CO2濃度時(shí)，必須在同一側(cè)點(diǎn)、同一時(shí)間檢測(cè)混合氣體和CH4氣體濃度，糾正在兩個(gè)檢測(cè)點(diǎn)檢測(cè)的錯(cuò)誤方法。